你知道光谱干扰吗？今天ICP光谱仪小编就和您一起了解。

　　由于ICP光源激发能量高，产生大量的发射谱线，在(200~1000)nm波长范围内，据统计有1000余万条谱线，平均0.1nm就分布100度条，几乎每个元素的分析线都受到不同程度谱线干扰。检查光谱干扰最有效的方法，是对分析线附近进行扫描，单独检查每个共存元素在该波段的发射情况，以确定是否要另选分析线或者进行干扰校正。在使用全谱直读型ICP时，光谱背景的校正比较灵活。光谱干扰是ICP-AES中的主要干扰，可分为谱线重叠干扰和背景干扰。

　　1谱线重叠干扰

　　谱线重叠干扰是指另外一个元素的谱线重叠或部分重叠在测定元素的分析线上形成的干扰。主要采用干扰系数(IEC)校正法来进行校正，谱线重叠主要包括直接重叠和分析线变宽引起的线翼重叠。其主要的干扰线和分析线完全重合。其主要的干扰类型有以下两种：

　　(1)直接谱线重叠，干扰线和分析线完全重叠。

　　(2)复杂谱线重叠，分析线和两条以上的干扰线重叠。

　　如果干扰谱线与分析谱线完全重叠，谱线干扰可以用干扰等浓度法或干扰系数法来校正。该方法是通过测定干扰元素。标准溶液在待测定元素谱线位置处的强度，求出单位浓度干扰元素的干扰量(干扰系数)，再计算出应予扣除的干扰线影响的浓度值。如：地质样品中用Cr205.552nm作为分析线进行测定时，大量铁会有干扰。当铁的质量浓度为1000mg/L时，造成铬质量浓度增加0.2mg/L。干扰系数为0.2/1000=0.0002.求出干扰系数后，可从分析结果中扣除由于干扰造成的浓度增加，因而得出无干扰的分析系数。这种方法必须同时册数干扰元素浓度。对于普通的ICP光谱仪，这是比较常用的校正方法。

　　如果干扰谱线与分析谱线是部分重叠，则IEC常常会得到错误的结果，因为对于部分重叠的情况，IEC的干扰因子不是固定的值，随着干扰元素浓度的变化而呈现变化。这时候就需要采用多谱线拟合(MSF)来进行校正。