钨和钼及其合金类样品也是较难分析的样品，它们都是富线光谱元素，并且其化学性质也与其他金属之类不同。Wohlers专门研究了ICP光源中W的发射光谱。Carre等给出了10g/L钨基体中Al等19种元素的主要分析线受干扰的情况，并报道了它们的检出限。这些资料均对建立分析方法有帮助。

1  钨合金中镍、铁、钴、锰的测定

钨合金约含Ni 1.4％，Co 0.1%，Fe 0.8％，Mn 0.026%，试样用硝酸和氢氟酸低温加热溶解，蒸至近干后加适量盐酸转化成盐酸体系进行光谱测定。盐酸酸度对元素测定有很大影响。随酸度的增加4个元素的谱线强度急剧降低，其中以镍线最为显著，钴线次之。各元素均有自己的最佳实验条件（以Cl－摩尔浓度表示）：镍在1.8~1.9mol/L，钴、锰在0.7~0.8mol/L，铁在0.6~0.7mol/L。

试验用FISON-ARL等离子体光谱仪，微型炬管（mini-torchTM），高频功率665W，冷却流量7.5L/min，载气流量0.8L/min。分析线为Ni 227.021nm，Co 231.160nm，Fe 273.955nm，Mn 294.920nm。

2  高纯钼中微量杂质的测定

用蒸馏法可制取高纯钼。测定其中微量杂质前，应用阳离子交换树脂色层法分离基体Mo。样品用HF-HNO3溶解，加H2SO4赶除HF-HNO3。冷却后稀释至0.05mol/L H2SO4酸度上柱分离。树脂粒度100~200目，柱直径9mm，杂质元素用2mol/L HNO3洗脱，洗脱液用于测定。方法用于高纯钼及硅钼合金中Ca、Mg、Ti的测定。

Wilhartitz用在线离子色谱与ICP光谱仪配合测ng/g水平的高纯钼和钨中22个微量杂质元素。如采用超声雾化器进样其检出限可降至pg/g~ng/g水平。方法可测22个元素。

高纯钼和钨微量杂质的测定可以用多种分析技术。Krivan等比较了电热原子吸收，ICP质谱、ICP光谱、中子活化及全反射X 荧光法。取样5g，在阳离子交换柱上分离，用4mol/L HNO3解吸杂质元素。表1和表2分别列出了高纯钨和高纯钼的测定数据。可以看出，由于分离基体后消除了干扰，各种分析技术所测出的数据均比较一致。

表1  各种分析技术测定高纯钨的数据比较/ng·g-1

表2  各种分析技术测定高纯钼的结果比较/ng·g-1